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常规涂层测厚仪的原理

编辑:广州安妙仪器有限公司时间:2019-08-07

  常规涂层测厚仪的原理;

  对资料外表保护、装饰构成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关地区和国际标准中称为覆层(coating)。

  覆层厚度丈量已成为加工工业、外表工程质量检测的重要一环,是产品到达优等质量标准的必备手法。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。

  覆层厚度的丈量办法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差丈量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性丈量法及涡流丈量法等。这些办法中前五种是有损检测,丈量手法繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

  X射线和β射线法是无接触无损丈量,但装置复杂昂贵,丈量范围较小。因有放射源,运用者有必要遵守射线防护标准。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法合适镀层和底材原子序号大于3的镀层丈量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时选用。

  跟着技能的日益进步,特别是近年来引进微机技能后,选用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。丈量的分辨率已达0.1微米,精度可到达1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简洁且价廉,是工业和科研运用*广泛的测厚仪器。

  选用无损办法既不损坏覆层也不损坏基材,检测速度快,能使很多的检测工作经济地进行。

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